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机译:微型计算机断层扫描技术研究复合材料中嵌入光纤的质量
Gabriele Chiesura; Geert Luyckx; Eli Voet; Nicolas Lammens; Wim Van Paepegem; Joris Degrieck; Manuel Dierick; Luc Van Hoorebeke; Pieter Vanderniepen; Sanne Sulejmani; Camille Sonnenfeld; Thomas Geernaert; Francis Berghmans;
机译:微计算机断层扫描技术研究嵌入复合材料的光纤的质量
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